用于動(dòng)力學(xué)監(jiān)控的原位納米粒度測(cè)量技術(shù)

本文介紹了用于原位納米粒度分析的遠(yuǎn)程光纖探頭技術(shù)VASCO Kin^TM。由法國(guó)技術(shù)公司（CORDOUAN Technologies）開(kāi)發(fā)的VASCO Kin^TM是一款功能的納米粒度分析儀，它利用的單模光纖技術(shù)將DLS測(cè)量導(dǎo)入到你的過(guò)程監(jiān)控。創(chuàng)新的光纖遠(yuǎn)程探頭(下文介紹其原理)使VASCO Kin能夠非常簡(jiǎn)單地結(jié)合到你現(xiàn)有的實(shí)驗(yàn)裝置上(如合成反應(yīng)器或小角X光散射SAXS系統(tǒng))，給用戶(hù)提供了大的測(cè)量靈活性，以監(jiān)測(cè)和改進(jìn)其工藝過(guò)程的顆粒粒度隨時(shí)間或反應(yīng)條件的變化。